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助力设备升级改造，谱光慧联显微角分辨光谱技术

显微角分辨光谱系统（Micro-Angle-Resolved Spectroscopy Systems, MARSS）是一种先进的光学测量工具，它结合了显微镜和角分辨光谱技术的优势用于研究材料的光学性质和结构特征。其面向研究方向和需求非常广泛

发布时间：

2025-09-30 15:51

显微角分辨光谱系统（Micro-Angle-Resolved Spectroscopy Systems, MARSS）是一种先进的光学测量工具，它结合了显微镜和角分辨光谱技术的优势用于研究材料的光学性质和结构特征。其面向研究方向和需求非常广泛，包括（但不限于）：

高分辨率成像需求

随着纳米科学和技术的快速发展，对材料结构和性质的研究越来越依赖于能够提供高空间分辨率信息的技术。显微角分辨光谱系统能够在微观尺度上对样品进行光谱和光学性质的精细测量，满足了这一需求。

复杂材料系统的表征

许多先进材料和器件，如二维材料、光子晶体、和异质结等，具有复杂的微观结构和丰富的物理现象。传统的光学测量方法往往无法提供足够的信息来全面理解这些系统。比如光子晶体是具有周期性介电常数变化的结构，它们能够影响光的传播特性，形成光子带隙，阻止特定频率范围内的光通过。显微角分辨光谱系统对于光子晶体的研究极为重要，因为它可以：通过角分辨光谱分析，可以精确确定光子晶体的带隙特性，包括带隙的位置和宽度，这对设计具有特定光学性质的光子晶体至关重要；光子晶体中的局部缺陷对其光学性质有显著影响，显微角分辨光谱系统能够在微观层面上检测和分析这些缺陷态，为光子晶体的优化提供依据；通过角分辨测量，研究光在光子晶体中的传播、反射和透射行为，进一步理解材料的光学特性。显微角分辨光谱系统能够提供更为详细的光学和结构信息，有助于深入理解材料的性质。

精确的光学特性测量

在材料科学、光电工程和生物医学等领域，对材料的光学特性进行精确测量是理解和应用材料性质的关键。显微角分辨光谱系统能够帮助研究人员精确测量超表面对入射光波的相位和振幅调控能力，这对于设计和优化超表面结构至关重要。超表面的设计往往涉及对光的偏振态进行精细控制，显微角分辨光谱系统能够测量偏振相关的光谱特性，为理解和利用这些效应提供必要的信息。超表面可实现多种光学效应的集成和对外界刺激的响应。显微角分辨光谱系统通过对不同角度和波长下的光学响应进行分析，帮助优化其功能性设计。

总的来说，显微角分辨光谱系统为光子晶体、超表面以及极化激元等领域的科学研究和技术开发提供了强大的测试和分析工具，是理解这些复杂光学现象和设计先进光学器件的必备设备。

谱光慧联推出的Excipolar Trion KSP 显微角分辨光谱系统具有如下优势：

通过对比可以发现，谱光慧联功能齐全强大，具有角分辨光谱采集功能的同时，还能兼顾共焦显微拉曼/荧光光谱功能；Excipolar Trion KSP角分辨显微光谱系统结合显微拉曼、荧光、透反射及偏振等一系列光学测量技术，能够实现动量空间+位置空间+自旋维度+频率分布等多维度分辨光谱。

谱光慧联角分辨光谱系统的角度分辨率更高，角度分辨能力更强。基于大数值孔径平场复消色差物镜，收集超过120°的角向辐射光谱；更高的角度分辨率0.3°，显著提升光谱分析能力；发光角度-发光频率二维成像，一次性快速获取不同角度下的光谱信息。

谱光慧联角分辨光谱系统拓展实现了近红外波段的角分辨光谱采集功能，支持紫外-可见-近红外宽谱波段的全覆盖光谱采集。

谱光慧联角分辨光谱系统的扩展性强，专为应用导向设计的系统，可兼容市场上主流的扩展平台，满足磁场、电场、高压、低温多物理场测试需求。

应用案例

主要应用

1. 新材料（揭示超材料、超表面、微纳光学结构的形貌周期尺寸和光场调控效果）

2. 物理（揭示光子晶体、光学微腔、SPP等样品体系的光学色散和光物质相互作用性质）

3. 测试平台、半导体（表征阵列结构、光栅、光波导器件的周期性结构参数及缺陷排查）

案例